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Sunscan作物冠层分析系统

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息

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YLS-A叶绿素仪测量原理

YLS-A叶绿素仪可以准确测量出植物叶片中叶绿素的相对含量,从而为合理、适当、及时施肥提供可靠的科学依据。

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FS-PAR植物冠层测量仪

FS-PAR植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。

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WinRHZIO根系分析系统

洗根后的专业根系分析系统,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等

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泛胜FS-PAR作物冠层分析仪

泛胜FS-PAR作物冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。

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植物茎秆强度仪

植物茎秆强度仪采用拉压力传感器,通过针刺、压碎、折断的方式测出茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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ZWS-1压力室法水势测定仪

ZWS-1压力室法水势测定仪是用于测定植物水分状况和它的组成成分及压去木质部位导管汁液提供成分分析用的一种分析仪器。

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新型调制叶绿素荧光成像系统IMAGING-PAM

全叶片荧光成像,精确到每个像素,光合作用横向异质性分析,多达17个荧光参数,代表了调制叶绿素荧光技术的未来发展趋势。

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YHD系列叶片厚度仪

YHD系列叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具,可以精准的测量出叶片的厚度。

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YLS-A泛胜叶绿素仪测量原理

YLS-A泛胜叶绿素仪可以准确测量出植物叶片中叶绿素的相对含量,从而为合理、适当、及时施肥提供可靠的科学依据,广泛应用于农业生产和科学研究。

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