梅特勒XS205 DualRange 分析天平
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电子天平-方盘 TD51001
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BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平,是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg,有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。