美国Rtec微纳米压痕/划痕仪
该平台配有防振台,隔声隔热外罩,以确保环境的稳定•3板式电容传感器实现超高精度的位移测量•用户自定义的分析算法或模型来计算材料的性能•ASTM,DIN和ISO标准
温度冲击试验箱/温度冲击试验机
高温箱温度范围 +60℃~150℃ 低温箱温度范围 -64℃~-10℃ 转换时间 ≤15s 控制点温度恢复时间 ≤5min 工作空间温度恢复时间 ≤20min 温度波动度 ±0.5
重量法吸附分析仪---IsoSORP
IsoSORP吸附分析仪的核心是一台能精确称量样品材料质量的磁悬浮天平。拥有Robotherm专利技术的磁悬浮天平,可以进行密闭样品仓内高精度的样品质量测量实验。样品质量实际上是从外部称量的,其悬挂力由内部高压样品仓,非接触式的传导给外部正常大气环境下的微电子天平。
LANGMUIR-BLODGETT膜沉积分析系统
  薄膜/沉积/测量(测定)(压力、面积、时间)/性能研究/薄膜制备/转移/张力测量/分析/吸附/解吸/人工膜/单分子/纳米、微米域制造/生物表面活性/有机发光二极管/单分子光谱/基于Windows操作系统LANGMUIR-BLODGETT膜沉积分析系统,LB膜沉积系统,LB膜分析仪
比表面积测定仪F-Sorb 2400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径(孔隙度)分析测试(测定)仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品,可完全实现测试过程的自动化和智能化,显著提高测试效率.
全自动比表面积及孔径分析测试仪F-Sorb 3400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径(孔隙度)分析测试(测定)仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品,可完全实现测试过程的自动化和智能化,显著提高测试效率.
光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能全面,技术先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样