多参数根系图像分析扫描仪
LC4800根系测定仪是一套用于洗根后的根系分析系统，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，操作简单，广泛运用于根系形态和构造研究。
便携式冠层分析仪，冠层分析系统，叶面积指数仪
STGG-01便携式叶面积指数分析仪应用于农业生产和农业科研，为进行植物冠层光能资源调查，测量冠层中光线的拦截，研究农作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。
叶绿素仪
LC-01可随意测定常见植物叶片的任何位置的叶绿素含量，测定范围广，从0-2000 单位，能够测定叶绿素含量非常高和非常厚的叶片。
SVP-1S型双目视觉植物表型分析系统
双目视觉是获取目标物体三维几何信息的重要手段之一，双目视觉植物表型分析系统是基于双目视觉技术，可静态快速测量植物表新型参数。
PAM-OS便携式脉冲调制叶绿素荧光仪
1931年，Hans Kautsky在实验中发现了暗适应叶片暴露在光照条件下由强到弱（荧光淬灭）的荧光动态过程（后来被称作“Kautsky effect”），而且这一荧光动态过程与二氧化碳的同化呈负相关。Hans Kautsky把这一发现写成一页纸的报告（题目为“二氧化碳同化新实验”）发表，
SporeWatch电子孢子花粉采样器
SporeWatch电子孢子花粉采样器是新一代的孢子采样器，是在目前国际上通用的HIRST孢子采样器基础上改进的系统，其成本更低，体积更小，更具灵活性。SporeWatch电子孢子花粉采样器全部采用电子控制操作，具有16个可选择的采样周期，自动关机
hemidig 数字植物冠层分析系统
HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。